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产品名称：3504-40 C测试仪 |
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等•
高速测量2ms
• 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
• 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
• 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
• 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
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产品名称：3504-50 C测试仪 |
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
•高速测量2ms
•能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
•对应测试线，比较器功能/触发输出功能
•3504-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
•查出全机测量中的接触错误，提高成品率
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产品名称：3504-60 C测试仪 |
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
•高速测量2ms
•能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
•对应测试线，比较器功能/触发输出功能
•3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
•3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
•查出全机测量中的接触错误，提高成品率
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产品名称：3505/3506 C测试仪 |
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对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
•反复测量精度更高，最适合生产线
•校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
•测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
•比较器的设定值和测定值的同步显示
•2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
•根据BIN的测定区分容量
•比测仪和触发器同步输出功能
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产品名称：IM3523 LCR测试仪 |
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应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
•基本精度±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
•在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
•内置比较器和BIN功能
•2毫秒的快速测试时间
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